講演・口頭発表等 - 安坂 幸師
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原子スケールファクトリーによる単層カーボンナノチューブの電気伝導特性解析
安坂幸師, DengFei, 木塚徳志
日本金属学会 2004年秋期(第135回)大会 2004年9月
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原子スケールファトリーによるAgとAu純金属ナノ接点のカーコンダクタンス関係の解析
DengFei, 安坂幸師, 木塚徳志
日本金属学会 2004年秋期(第135回)大会 2004年9月
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原子スケールファクトリーによるアモルファスカーボンナノウィスカーの電気伝導特性の解析
加藤良栄, 安坂幸師, 宮澤薫一, 木塚徳志
日本金属学会 2004年秋期(第135回)大会 2004年9月
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TEM-SPM複合型顕微鏡による炭素原子状ワイヤーの原子直視観察
安坂幸師, DengFei, 木塚徳志
2004年(平成16年)秋季 第65回応用物理学会学術講演会 2004年9月
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Direct observation of excitonic lasing from single ZnO nanobelts at room temperature 国際会議
Kazuki Bando, Taiki Sawabe, Koji Asaka, and Yasuaki Masumoto
27th International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS-27) 2004年7月
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孤立単層カーボンナノチューブの作製と力学特性の解析
安坂幸師, DengFei, 木塚徳志
ナノ学会 第2回大会(2004年) 2004年5月
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In-situ電子顕微鏡法によるSiナノワイヤーの作製と電気伝導特性解析
高谷恭弘, 安坂幸師, 木塚徳志
ナノ学会 第2回大会(2004年) 2004年5月
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In-situ電子顕微鏡法によるAgナノコンタクトのエレクトロマイグレーションのその場観察
DengFei, 安坂幸師, 木塚徳志
ナノ学会 第2回大会(2004年) 2004年5月
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In-situ電子顕微鏡法によるフラーレンナノウィスカーの変形・破壊の直接観察
加藤良栄, 安坂幸師, 宮澤薫一, 木塚徳志
ナノ学会 第2回大会(2004年) 2004年5月
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ナノホール制限成長法によるSiナノワイヤーの作製と電気伝導特性の解析
高谷恭弘, 安坂幸師, 藤澤悟, 矢部彰, 木塚徳志
日本金属学会2004年春期(第134回)大会 2004年3月
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Agナノメートル接点の電流電圧特性
DengFei, 安坂幸師, 木塚徳志
日本金属学会2004年春期(第134回)大会 2004年4月
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Cuナノメートル接点のエレクトロマイグレーションの原子直視観察
森正存, 安坂幸師, 藤澤悟, 矢部彰, 木塚徳志
日本金属学会2004年春期(第134回)大会 2004年3月
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単層カーボンナノチューブの引張り変形と接合の原子プロセス
安坂幸師, DengFei, 木塚徳志
日本金属学会2004年春期(第134回)大会 2004年3月
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ナノホール制限接触成長法によるシリコンナノワイヤーの作製
高谷恭弘, 安坂幸師, 藤澤悟, 矢部彰, 木塚徳志
日本顕微鏡学会関東支部講演会第28回講演会「バイオ・ナノテクノロジーとそれを支える顕微鏡技術」 2004年3月
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単層カーボンナノチューブのその場引張り変形観察
安坂幸師, DengFei, 木塚徳志
日本顕微鏡学会関東支部講演会第28回講演会「バイオ・ナノテクノロジーとそれを支える顕微鏡技術」 2004年3月
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複合型電子顕微鏡法によるAgナノ接点の電気伝導特性の解析
DengFei, 安坂幸師, 木塚徳志
日本顕微鏡学会関東支部講演会第28回講演会「バイオ・ナノテクノロジーとそれを支える顕微鏡技術」 2004年3月
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アトムファクトリーによるナノコンタクト研究
安坂幸師, 木塚徳志
平成16年度ナノサイエンス特別プロジェクト研究成果発表会 2004年3月
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Direct atomistic observation of electromigration of Ag point contacts 国際会議
Fei Deng, Koji Asaka, and Tokushi Kizuka
The 9th International Symposium on Advanced Physical Field (APF-9), ”Characterization of Artificial Nanostructures and Nanomaterials” 2004年3月
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Direct atomistic observation of tensile deformation and joining processes of isolated single-walled carbon nanotubes 国際会議
Koji Asaka, Fei Deng, and Tokushi Kizuka
The 9th International Symposium on Advanced Physical Field (APF-9), ”Characterization of Artificial Nanostructures and Nanomaterials” 2004年3月
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Growth processes and electronic conductivity of individual silicon nanowires studied by TEM-SPM combined microscopy 国際会議
Yasuhiro Takatani, Koji Asaka, Satoru Fujisawa, Akira Yabe, and Tokushi Kizuka
The 9th International Symposium on Advanced Physical Field (APF-9), ”Characterization of Artificial Nanostructures and Nanomaterials” 2004年3月