2025/01/07 更新

写真a

ニシ リュウジ
西 竜治
Ryuji Nishi

学位

  • 博士(工学)   論文 ( 1997年3月   大阪大学 )

研究キーワード

  • Electron Optics

  • 電子光学

研究分野

  • ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 計測工学  / 電子光学

学歴

  • 大阪大学   工学部   電子工学科   卒業

    1986年4月 - 1990年3月

  • 大阪大学   工学研究科   電子工学専攻   博士前期課程   修了

    1990年4月 - 1992年3月

経歴

  • 大阪大学   工学部電子工学科   助手

    1992年4月 - 1998年3月

  • 大阪大学   工学研究科電子工学専攻   助手

    1998年4月 - 2003年3月

  • 大阪大学   工学研究科原子分子イオン制御理工学センター   助手

    2003年4月 - 2004年10月

  • 大阪大学   工学研究科原子分子イオン制御理工学センター   学内講師

    2004年11月 - 2007年3月

  • 大阪大学   超高圧電子顕微鏡センター   准教授

    2007年4月 - 2020年3月

  • 福井工業大学   工学部 電気電子工学科   教授

    2020年4月 - 2023年3月

  • 大阪大学   超高圧電子顕微鏡センター   特任教授

    2020年4月 - 現在

  • 福井工業大学   工学部 電気電子情報工学科   教授

    2023年4月 - 現在

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所属学協会

  • 日本顕微鏡学会

    1991年5月 - 現在

  • 電子情報通信学会

    1991年10月 - 2007年3月

  • 応用物理学会

    1992年7月 - 現在

  • 情報処理学会

    2000年2月 - 現在

  • 日本表面科学会

    2002年4月 - 2014年3月

  • 日本学術振興会第132委員会

    2011年7月 - 2021年3月

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委員歴

  • ナノ荷電粒子ビーム産学連携委員会 委員長  

    2021年4月 - 現在   

  • 電子光学設計技術研究分科会 幹事  

    2018年5月 - 現在   

  • 代議員  

    2014年4月 - 現在   

  • 関西支部庶務・会計幹事  

    2002年5月 - 2003年5月   

  • 関西支部実用分析セミナー小委員会委員  

    2003年5月 - 2007年5月   

  • 関西支部講演大会準備小委員会役員  

    2005年5月 - 2007年5月   

  • 関西支部15周年記念誌小委員会委員  

    2006年5月 - 2007年5月   

  • 関西支部評議員  

    2011年1月 - 2014年3月   

  • 委員  

    2011年7月 - 2012年1月   

  • 幹事  

    2012年1月 - 2021年3月   

  • 電子光学設計技術研究部会 幹事  

    2015年5月 - 2018年5月   

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取得資格

  • 情報処理安全確保支援士試験合格

  • 陸上無線技術士(第1~2級)

  • 放射線取扱主任者(第1~2種)

  • 衛生工学衛生管理者

  • エックス線作業主任者

  • ガンマ線透過写真撮影作業主任者

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論文

  • Low-Aberration ExB Deflector Optics for Scanning Electron Microscopy 査読

    Momoyo Enyama, Jun Yamasaki, Ryuji Nishi, Hiroyuki Ito

    Microscopy   72 ( 5 )   399 - 407   2023年10月

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    To suppress aberrations in the signal electron optics of a scanning electron microscope, we propose ExB deflector (deflector with superimposed electric and magnetic fields) optics that cancel the aberrations generated during large-angle deflection. This improves the resolution of the angle or position of the signal electrons on the sample surface, allowing them to be discriminately detected. The proposed optics consist of two ExB deflectors and a transfer system with two 4-f systems, or systems that have four times the focal length, placed between them. This configuration maintains the symmetry of the electron beam trajectory throughout the transfer system such that aberrations generated by the first ExB deflector are negated by the second. The effect of the proposed optics was confirmed using a ray-tracing simulation of the electron beam, and the aberration was reduced to at most one-tenth of that in the case with only one ExB deflector. Furthermore, as an example, we examined the implementation of the proposed ExB deflector optics to resolve the signal electron angle and found that the sample emission angle range of 80° can be resolved with an angular resolution of 1°. Therefore, the proposed ExB deflector optics can be applied to the signal electron optics of a scanning electron microscope to improve the resolution of the signal electrons.

  • Network Tele-Microscopyによる金属ガラスの微細組織観察 査読

    永瀬丈嗣, 西竜治, 市川聡

    材料   72 ( 3 )   226 - 227   2023年3月

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    積層造形(AM)は、超微細な凝固微細構造や臨界安定条件に達する結晶成長を形成するための急速凝固を実現することができる。鉄系金属ガラス中に埋め込まれたBCCデンドライトの核生成・成長挙動をTEM観察することは、AM開発のための超微細デンドライトの形態を明らかにするまたとない機会となる。本研究では、超高圧電子顕微鏡Hitachi H-3000を用いて、TEM試料のその場加熱により得られたFe-Si-Bアモルファスマトリックス中に埋め込まれたBCC-Feデンドライトのネットワーク遠隔顕微鏡観察を報告した。

  • Application of ultra-high voltage electron microscope tomography to 3D imaging of microtubules in neurites of cultured PC12 cells 査読

    T. Nishida, R. Yoshimura, R. Nishi, Y. Imoto, Y. Endo

    Journal of Microscopy   278 ( 1 )   42 - 48   2020年4月

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    Electron tomography methods using the conventional transmission electron microscope have been widely used to investigate the three-dimensional distribution patterns of various cellular structures including microtubules in neurites. Because the penetrating power of electrons depends on the section thickness and accelerating voltage, conventional TEM, having acceleration voltages up to 200 kV, is limited to sample thicknesses of 0.2 μm or less. In this paper, we show that the ultra-high voltage electron microscope (UHVEM), employing acceleration voltages of higher than 1000 kV (1 MV), allowed distinct reconstruction of the three-dimensional array of microtubules in a 0.7-μm-thick neurite section. The detailed structure of microtubules was more clearly reconstructed from a 0.7-μm-thick section at an accelerating voltage of 1 MV compared with a 1.0 μm section at 2 MV. Furthermore, the entire distribution of each microtubule in a neurite could be reconstructed from serial-section UHVEM tomography. Application of optimized UHVEM tomography will provide new insights, bridging the gap between the structure and function of widely-distributed cellular organelles such as microtubules for neurite outgrowth.

    Key words: microtubule, neurite, section thickness, electron tomography, ultra-high voltage electron microscope

  • 超高圧電子顕微鏡結像観察系の高性能化に関する研究

    西 竜治

    1997年3月

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    本論文は、超高圧電子顕微鏡をその場観察に適した結像観測系とするため、結像レンズおよび観察系の性能向上に関する研究成果をまとめたものである。全体は7章から構成され、以下、その概要を各章ごとに述べる。
     第1章は序論であり、超高圧電子顕微鏡の特徴とその場観測に求められる性能と問題点について述べ、本研究の課題と本論文の構成を示した。
     第2章では、対物レンズの応答遅れの原因をコイル、冷却板、磁路の3つに分離した磁気回路モデルを新たに提案し、レンズギャップ中心での磁束密度を解析的に評価した。冷却板に流れる渦電流を遮断することにより、応答速度の大幅な改善が達成されることを示した。このことを有限要素法を用いた磁束密度の動特性解析により定量的に検証した。
     第3章では、レンズ冷却板を渦電流が流れないように加工し、レンズの立ち上がり特性が大幅に改善されることをレンズ中心の磁束密度の周波数特性および時間応答特性を測定し検証した。さらに、磁路深部への磁束の侵入に伴う遅れ成分を補償するために、対物レンズ磁路と独立した小型磁路を持つフォーカシングレンズを導入した。
     第4章では、拡大像と回折像の高速切換を実現するため、絞りの機械的な移動を排除し、レンズ励磁切換のみで行える新しい結像モードを提案した。この結像モードを超高圧電子顕微鏡に適用したときの電子光学諸量を計算し、その実現性を確認した。
     第5章では、超高圧電子顕微鏡用に分解能が高く、発光効率の良い蛍光板の条件を検討した。光学透明な単結晶蛍光板と不透明な粉末蛍光板の2種類について、発光拡がり特性を厚さ、深さごとに定量化した。また、蛍光板の断面観察により、発光拡がり分布を定量的に求め、拡がり関数を導出した。これらの測定から、蛍光板の発光拡がり機構を明らかにし、超高圧電子顕微鏡に適した蛍光板の条件を求めた。
     第6章では、新たに採用した高感度高解像度ハーピコンカメラの分解能を定量評価した。蛍光板とTVカメラからなるTV観察系の解像度を求め、解像度改善のための要点を明らかにした。
     第7章は結論であり、本論文を総括し、今後の課題を指摘した。

書籍等出版物

  • 電子・イオンビームハンドブック第4版 査読

    編集委員長 臼井博明( 担当: 共編者(共編著者) ,  範囲: 1章と2章、および付録2と3の編集)

    日本学術振興会132委員会編  2021年3月  ( ISBN:978-4-600-00624-2

講演・口頭発表等

  • 電子顕微鏡・ラマン分光・放射光を利用した鋳鉄の構造解析

    佐藤海斗, 永瀬丈嗣, 丸山徹, 神田一浩, 山川進二, 大河内拓雄, 山下満, 松延, 西竜治, 市川聡

    材料物性工学談話会 2024年度第3回講演会  2025年1月 

  • 電子顕微鏡遠隔観察システムの構築

    山本航, 永瀬丈嗣, 山下満, 西竜治, 市川聡

    日本鋳造工学会関西支部 令和6年度秋季支部講演大会  2024年11月  日本鋳造工学会関西支部

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    兵庫県立大学・兵庫県立工業技術センターを中心に構築してきたNetwork tele-microscopyシステムと、鋳造分野での応用事例として、(A)文化財調査への応用:3Dプリンターで作製したレプリカの高校生を対象とした凝固組織観察、および(B)球状黒鉛鋳鉄の観察に関する事例を報告する。

  • Network tele-microscopyにおけるTEM-BF像の画像劣化

    門田優杜, 山口大智, 山本航, 永瀬丈嗣, 山下満, 當代光陽, 西竜治, 市川聡

    日本金属学会関西支部 マテリアルデザイン研究会  2024年11月  日本金属学会関西支部

  • Network tele-microscopyによる3DPで作製した金属文化財レプリカの組織観察

    新橋創太, 山本航, 永瀬丈嗣, 山下満, 柏井茂雄, 兼吉高宏, 當代光陽, 西竜治, 市川聡

    日本金属学会関西支部 マテリアルデザイン研究会  2024年11月  日本金属学会関西支部

  • たたら製鉄試料を用いた Network tele-microscopy の教育利用

    山本航, 新橋創太, 永瀬丈嗣, 関一郎, 西竜治, 市川 聡

    日本顕微鏡学会第67回シンポジウム  2024年11月  日本顕微鏡学会

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    Network tele-microscopyは、リアルタイムで遠隔地から顕微鏡像を観察できる技術で、専門家間の効率的な情報共有や教育利用に応用可能である。本研究は、小中高生を対象に玉鋼を用いた電子顕微鏡教育を実施し、若手研究者の育成に貢献する可能性を示した。

  • Network tele-microscopy in cities and regional areas 招待 国際会議

    T. Nagase, M. Yamashita, M. Todai, R. Nishi, S. Ichikawa

    The 10th TKU-ECUST-KIST-OMU-UH-IHU-KMITL-UTAR-TNU-HUIT Joint Symposium on Advanced Materials and Applications (JSAMA-10)  2024年10月  JSAMA-10, East China University of Science and Technology

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    Electron microscopy is one of the most important and powerful technique for the microstructure analysis in materials. Tele-microscopy including the remote operation and observation using electron microscopes had been proposed at end of 1990’s, however, the initial stage tele-microscopy had not been widespread because of the underdevelopment of information and communication technology at that time. Now we start the construction of network tele-microscopy system as the cutting edge of tele-microscopy. In the present study, the concept and some experimental results of the network tele-microscopy system focusing on the Hyogo Prefecture in Japan are introduced.

  • Artificial Intelligence Compatible Charged Beam Optical System 国際会議

    Hiroyuki Ito, Nishi Ryuji, Jun Yamasaki

    11th Conference on Charged Particle Optics (CPO-11)  2024年10月  CPO-11 Organizing Committee

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    This study presents advancements in electron optical systems, focusing on AI-compatible designs to improve performance in SEM, TEM, and analyzers. Key innovations include: (1) the N-SYLC aberration corrector, which eliminates magnetic hysteresis and enhances magnetic field strength using parallel current lines; (2) the V-SYLC beam deflector for high-speed voltage superimposition; and (3) the DAL electron mirror, offering charging-free energy filtering for compact analyzers. The N-SYLC system simplifies traditional spherical aberration correction by replacing magnetic poles with current lines, improving controllability and efficiency. Integration of these technologies with AI enables autonomous electron beam tuning and noise suppression, laying a foundation for new applications.

  • Three-dimensional reconstruction of surface morphology of a polycrystalline dendrite particle using bright-field TEM images 国際会議

    Shinya Mizuno, Takeshi Nagase, Ryuji Nishi and Jun Yamasaki

    11th Conference on Charged Particle Optics (CPO-11)  2024年10月  CPO-11 Organizing Committee

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    We developed a method for 3D surface reconstruction of crystalline materials using electron tomography. The study focused on dendritic crystalline particles growing in an amorphous Fe-Si-B alloy matrix. Bright-field TEM images were acquired using an ultra-high voltage electron microscope (2000 kV, Hitachi H-3000) from 121 angles between -60° and +60° at 1° intervals. To address the complex diffraction contrast typical of crystalline materials, the images were binarized, clearly separating the crystalline particles from the amorphous regions. The reconstruction results showed that binarization significantly reduced noise, producing a smooth and accurate representation of the 3D growth front. This method aids in understanding the growth mechanisms of crystalline particles.

  • Network tele-microscopy observation system in Research Center for Advanced Metallic Materials at University of Hyogo and Hyogo Prefectural Institute of Technology 国際会議

    K. Yamamoto, T. Nagase, M. Yamashita, R. Nishi, S. Ichikawa

    4th Joint Symposium on Advanced Mechanical Science and Technology  2024年9月  University of Hyogo

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    Electron microscopy is a crucial technique for microstructure observation and material analysis, but its high cost and the limited availability of skilled electron microscopists restrict its accessibility. In Japan, electron probe micro-analyzers (EPMAs) with field-emission (FE) guns are installed in only a few public technology centers and universities. Network tele-microscopy offers a solution by enabling remote observation of electron microscope images without requiring expensive equipment or specialized expertise. This study reports on a network tele-microscopy system developed for remote observation, installed at the Research Center for Advanced Metallic Materials, University of Hyogo, and the Hyogo Prefectural Institute of Technology.

  • 超高圧電子顕微鏡network tele-microscopyによるナノデンドライトの遠隔電子顕微鏡観察

    永瀬丈嗣, 西竜治, 市川聡, 山﨑順

    日本金属学会の秋期(第175回)講演大会  2024年9月  日本金属学会

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    電子顕微鏡法は微細構造解析で重要であり、マテリアルDX推進の一環としてnetwork tele-microscopyが注目されている。この技術は、リアルタイムで「イメージ」を共有し、効率的なデータ収集と研究者間の生きたデータ共有を可能にする。特に、粉末床溶融結合法における超温度場での絶対界面安定性に関するナノデンドライト形成の3D評価が焦点である。本研究では、大阪大学の超高圧電子顕微鏡を活用し、network tele-microscopyによるナノデンドライトの遠隔観察事例を報告した。

  • TinkerCAD を利用した電子回路の仮想実験

    木村紀之, 西 竜治

    2024年 電気学会産業応用部門大会  2024年8月  電気学会

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    本論文では、ウェブサイト「TinkerCAD-circuits」を利用して仮想実験を実現する方法を示す。このような実験を実現することで多くの利点が得られるが、シミュレータ内で現実的な実験を行うためにはいくつかの重要なノウハウが必要である。本論文では、それらのノウハウの具体例を示し、読者が容易に実践できるよう、サンプル回路とその結果を提供する。

  • デンドライト多結晶粒子の回折コントラスト像に基づく三次元トモグラ フィー

    水野 伸哉 , 永瀬 丈嗣, 西 竜治, 山﨑 順

    日本顕微鏡学会 第80回学術講演会  2024年6月  日本顕微鏡学会

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    アモルファスFe-Si-B合金を500℃以上に加熱するとデンドライト結晶粒が成長することが知られており、その成長メカニズム解明には結晶粒の三次元表面形状の計測が重要である。しかし、結晶粒と母相の組成比が近いためADF-STEMトモグラフィーではコントラストが得られず、回折コントラスト像に基づく解析が必要となる。本研究では、回折コントラスト像を活用した二値化画像による三次元再構成を試みた。大阪大学の300万ボルト超高圧電子顕微鏡(日立H-3000)を用い、±60°で1度刻みの明視野TEM像を取得し、二値化処理を通じてマーカーレスアライメントに成功した。再構成結果ではmissing wedge効果が顕著であり、全角傾斜による表面形状再現性がシミュレーションで確認された。本研究では全角傾斜ホルダーを用いた実験の取り組みについても述べる。

  • Network tele-microscopyによる電子顕微鏡遠隔観察の実例

    山本 航, 佐藤 海斗, 迫田 愛美, 山口 大智, 永瀬 丈嗣, 山下 満, 西 竜治, 市川 聡

    日本顕微鏡学会 第80回学術講演会  2024年6月  日本顕微鏡学会

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    電子顕微鏡は材料解析における基盤技術であるが、高コストや専門人材の確保が困難であり、地方自治体での運用が困難になりつつある。Network tele-microscopyは、クラウドやテレビ会議システムを用いて電子顕微鏡像を遠隔地でリアルタイムに共有・観察する技術であり、この課題の有力な解決策である。本研究では、大阪大学や兵庫県立大学の電子顕微鏡を用いて1府5県14拠点での遠隔観察を実現した事例を報告し、自治体レベルでの持続可能な電子顕微鏡運用モデル構築のための課題を考察する。

  • 関西の公設試における Network tele-microscopy 観察の実例

    永瀬丈嗣, 西竜治, 市川聡, 柴田顕弘, 松室光昭, 武村守, 長岡亨, 木元慶久, 時枝健太郎, 山下満, 山﨑徹

    日本鋳造工学会 2024年春期第183回全国講演大会  2024年5月  日本鋳造工学会

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    透過電子顕微鏡は高コストや専門人材の不足により地方自治体での運用が困難である。本研究では、遠隔操作ではなく遠隔観察に特化した「クラウドIPハイブリッド方式」を用い、1府5県16拠点での遠隔観察を実現した。遠隔観察は、タイムラグやセキュリティ問題を伴う遠隔操作の課題を回避し、現実的な普及が期待される。本方式を用い、大阪大学の超高圧電子顕微鏡H-3000を活用し、オンライン会議やテレビ会議システムを併用して金属材料の観察を行った事例を報告する。

  • Network tele-microscopyを利用した金属ガラス・アモルファス相の観察の実例

    永瀬丈嗣, 山本航, 山下満, 西竜治, 市川聡

    粉体粉末冶金協会 2024年春季大会  2024年5月  粉体粉末冶⾦協会

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    電子顕微鏡の遠隔観察・遠隔操作技術は新しい概念ではなく、1990年代後半から超高圧電子顕微鏡Hitachi H-3000を用いた先駆的な試みが行われ、多くの知見が得られてきた。当時はISDNや衛星通信を用い、限られた回線容量で情報を転送する技術が主眼であったが、COVID-19の影響でリモート技術の社会的受容が進み、TEMの画像取得技術や通信容量の大幅な進化により状況が一変した。我々は、大阪大学超高圧電子顕微鏡センターで開発されたnetwork tele-microscopyを用い、4K画像のリアルタイム観察や高速通信、情報秘匿性を実現し、金属ガラス・アモルファス相の遠隔観察に成功した事例を報告する。

  • 放射光・電子顕微鏡の融合研究による金属酸化物界面における電子励起誘起相転移現象の解明

    山口大智, 永瀬丈嗣, 部家彰, 住友弘二, 井上尚三, 神田一浩, 山下満, 佐藤和久, 西竜治, 市川聡

    ニュースバルシンポジウム 2024  2024年3月  兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所

  • 球状黒鉛の電子顕微鏡観察における汎用電子顕微鏡と超高圧電子顕微鏡の違い

    佐藤海斗, 永瀬丈嗣, 丸山徹, 淺野和典, 五十嵐芳夫, 山下満, 西竜治, 市川聡

    日本金属学会2024年春期(第174回)講演大会  2024年3月  日本金属学会

  • Network tele-microscopyを利用した(Pt-Siアモルファス相)/SiOx 界面における電子励起誘起結晶化現象の研究

    山口大智, 山本航, 永瀬丈嗣, 山下満, 佐藤和久, 西竜治, 市川聡

    日本金属学会2024年春期(第174回)講演大会  2024年3月  日本金属学会

  • 積層造形-溶浸法により作製したTi-Mg合金のnetwork tele-microscopy観察

    山本航, 成定慧, 永瀬丈嗣, 今木辰彦, 竹内章,柳谷彰彦, 山口篤,山﨑徹, 西竜治, 市川聡

    軽金属学会 関西支部若手研究発表会  2024年3月  軽金属学会関西支部

  • 兵庫県立大学と兵庫県立工業技術センターにおけるNetwork tele-microscopy

    永瀬丈嗣, 山口大智, 山本航, 山下満, 西竜治, 市川聡

    日本顕微鏡学会第66回シンポジウム  2023年11月 

  • 島根県におけるNetwork tele-microscopyを利用した球状黒鉛鋳鉄電子顕微鏡観察

    永瀬 丈嗣, 尾添 伸明, 丸山 徹, 市川 聡, 西 竜治

    日本顕微鏡学会第79回学術講演会  2023年6月 

  • 低収差ExB偏向器光学系の提案

    圓山 百代, 西 竜治, 伊藤 博之, 山﨑 順

    日本顕微鏡学会第79回学術講演会  2023年6月 

  • Ultra-High Voltage Electron Microscope - Network tele-microscopy observation on Spheroidal Graphite Cast Iron

    K. Sato, T. Nagase, T. Maruyama, S. Ichikawa, R. Nishi

    2023年5月 

  • Network tele-microscopy observation on casting alloys using the ultra-high voltage electron microscope

    T. Nagase, S. Ichikawa, R. Nishi

    2023年5月 

  • HEAにおける化学的規則構造の超高圧電子顕微鏡Network Tele-Microscopy 観察

    立松主, 永瀬丈嗣, 西竜治, 市川聡

    日本顕微鏡学会 第65回シンポジウム  2022年11月  日本顕微鏡学会

  • ナノスケールBCC デンドライトの超高圧電子顕微鏡・Network Tele-Microscopy 観察

    佐貫毅, 永瀬丈嗣, 西竜治, 市川聡

    日本顕微鏡学会 第65回シンポジウム  2022年11月  日本顕微鏡学会

  • 球状黒鉛鋳鉄の超高圧電子顕微鏡・Network Tele-Microscopy 観察

    佐藤海斗, 永瀬丈嗣, 丸山徹, 西竜治, 市川聡

    日本顕微鏡学会 第65回シンポジウム  2022年11月  日本顕微鏡学会

  • 積層造形-溶浸法により作製したTi-Mg非混和合金バルク材の超高圧電子顕微鏡観察

    山本航, 永瀬丈嗣, 山口 篤, 竹内章, 柳谷彰彦, 山﨑徹, 今木辰彦, 西竜治, 市川聡

    日本顕微鏡学会 第65回シンポジウム  2022年11月  日本顕微鏡学会

  • 超高圧電子顕微鏡・多元同時観察法を利用した金属ガラスの電子顕微鏡観察

    永瀬丈嗣, 西竜治, 市川聡

    第8回材料WEEK  2022年10月  日本材料学会

  • オンライン会議ソフトを利用したTelemicroscopy

    永瀬 丈嗣, 千星聡, 西竜治

    日本金属学会2021年秋期講演大会(第169回)  2021年9月 

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担当経験のある授業科目

  • 電子回路Ⅱ

    2024年10月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • デジタル信号処理

    2021年10月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • ネットワークシステム特論

    2020年10月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • デジタル回路

    2020年4月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • コンピュータ言語Ⅱ

    2020年10月
    -
    2021年9月
    機関名:福井工業大学

  • 電子線ナノ計測学

    2016年10月
    -
    現在
    機関名:大阪大学

  • 電気数学I

    2020年4月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • 電気回路Ⅰ

    2020年10月
    -
    2021年3月
    機関名:福井工業大学

  • 電気回路II

    2020年4月
    -
    2022年9月
    機関名:福井工業大学

  • 電気電子工学実験Ⅲ

    2021年4月
    -
    2022年3月
    機関名:福井工業大学

  • 電気電子工学実験Ⅱ

    2020年10月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • 課題研究

    2020年4月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • FUT実践学演習Ⅱ

    2021年10月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • FUT実践学演習Ⅰ

    2021年4月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • FUT実践学演習Ⅲ

    2021年4月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • FUT実践学演習基礎

    2020年10月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • 実践工学演習Ⅱ

    2020年10月
    -
    2021年3月
    機関名:福井工業大学

  • 創造科学

    機関名:福井工業大学

  • キャリアゼミⅠ

    機関名:福井工業大学

  • キャリアゼミⅡ

    機関名:福井工業大学

  • キャリアゼミⅢ

    機関名:福井工業大学

  • キャリアゼミⅣ

    2020年10月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • キャリアデザインI

    機関名:福井工業大学

  • キャリアデザインⅡ

    機関名:福井工業大学

  • キャリアデザイン

    2023年10月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

  • キャリアアップゼミⅠ

    2023年4月
    -
    現在
    機関名:福井工業大学

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学術貢献活動

  • 第11回荷電粒子光学国際会議 国際学術貢献

    役割:企画立案・運営等, パネル司会・セッションチェア等

    CPO-11組織委員会・小瀬洋一  ( 福井県国際交流会館 ) 2024年10月